Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
This paper presents a combinational test generation method for transition faults in acyclic sequential circuits. In this method, to generate test sequences for transition faults in a given acyclic sequential circuit is performed on its extend time-expansion model. The model is composed of two copies of time-expansion model of the given circuit and extends in the close two sequences to generate 2 vectors...
Test time optimization is necessary for modular testing of hierarchical system-on-chip (SOC) that contain embedded IP core. In this paper, we consider the case of non-interactive design transfer between IP core vendor and IC integrator. We proposes a method based on genetic algorithm which can efficiently optimize the test time of hierarchical SOC. Utilizing international reference circuit provided...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.