Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Functional test sequences play an important role in manufacturing test for targeting defects that are not detected by structural test. In practice, functional tests are often derived from existing design-verification test sequences and they suffer from low defect coverage. Therefore, there is a need to increase their effectiveness using design-for-testability (DFT) techniques. We present a non-scan...
There is an ever-increasing demand for higher performance microprocessors within a given power budget. This demand forces design choices - that were once seen only in high-speed custom blocks - to spread throughout the microprocessor core. These unique design structures, combined with the nanometer technology test challenges such as crosstalk, process variations, power-supply noise, and resistive...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.