Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Thin films of aluminum nitride (AlN) fabricated by reactive deposition were characterized in order to examine the electrical insulation properties suitable for a gate insulator. For a series of AlN films deposited with a variation of the amount of Al flux at a fixed N flux, compositional and chemical analyses were performed using X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and elastic recoil detection...
We have discovered a new oxide phase which may be written as Ba 3 Cu 3 O x (BCO). The sample was a thin film epitaxially grown on SrTiO 3 (100) substrate. The BCO film was prepared using a pulsed ArF excimer laser ablation technique. X-ray analysis has revealed that the structure of the new phase, BCO, is tetragonal with the lattice parameters, a = 0.39 nm and c = 1...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.