Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
The Fowler-Nordheim (FN) stress on PMOSFET cause Idsat decrease and Vth increase. In this work, we have investigated FN stress induced device degradation mechanisms in PMOSFETs with different gate length and oxide thickness. We describe a quantitative relationship between Idsat, Idlin and Vth change under FN stress condition.
In superconducting cable applications using the HTS tapes, striation of ReBCO coated conductor (CC) is being considered to reduce ac loss. The striation of ReBCO coating film with laser patterned filaments has been tried. In practical applications, the striated ReBCO CC tapes should also exhibit acceptable tolerance to mechanical stress/strains. However, reports on the electromechanical properties...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.