Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
The fault-tolerant design of analog circuit is a very meaning thing. Negative-correlation redundant fault-tolerant design is a new approach. This paper proposes a method which uses single population to evolve negative-correlation circuit. Each chromosome represents only one circuit and evolves one circuit that meets requirements each evolution time. Then use the evolved circuits to guide the subsequent...
With the increasing use of electronic equipments in uncertain environments, robustness and reliability become more and more important for analog circuits. Uncertain influences may cause uncertain component-drifts in analog components. This paper proposes a new idea to enhance the reliability of analog circuits under uncertain component-drifts. Diversified redundancies are adopted and an evolving model...
Uncertain and unpredictable faults can occur in electronic systems that work in harsh environments. Analog circuits play an important part in modern electronic systems. Accordingly, it is important to investigate the reliability of analog circuits under uncertain faults. For robust analog circuits designed to be tolerant of certain faults, unexpected faults might issue great influence. For the enhancement...
Integrated circuit technology has been dramatically developed during the past decades. Reliability of analog circuits becomes more and more important for yield design. However, most state of the art researches are concentrated on analog circuit robust optimization and analog circuit fault detection. There are seldom any researches on analog circuit fault-tolerant design. This paper proposed an negatively-correlated...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.