Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
The stability of charges trapped by the single‐contact and repeated‐contact modes with atomic force microscopy (AFM) probe for polystyrene/cruciformed spiro [fluorene‐9,9′‐xanthene] (PS/SFXs) electret films is detected by Kelvin probe force microscopy (KPFM). The influences of the contact duration and number of contacts on the trapped charges are explored. We found that the contact duration and number...
The electrons and holes were injected into the blend electrets of polystyrene and C60 (PS/C60) by adjusting the biases of conductive atomic force microscopy probe. We visualized the charges trapping, release, diffusion, and retention processes of the PS/C60 electrets by utilizing the Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM), and found that the localization and retention abilities of the ambipolar charges...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.