Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
There is a method of global parametric faults location in analogue integrated circuits presented in this paper. Circuit Under Test is diagnosed in the time domain. The method is based on a utilisation of the tested device response and its derivative base features, i.e. following maxima and minima. The set consisted of base features is transformed into an advanced feature. Base features and the advanced...
In the paper the application of the SVM (support vector machine) algorithm has been used for diagnosis and test of analog electronic circuits in time domain. Procedure designed belongs to simulation before test technique, where the fault models should be assumed at the before test stage (prototype stage). Both, parametric and catastrophic faults based on standard fault models are considered. Selected...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.