Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
This paper presents a leakage characterization technique for switched capacitor (SC) integrators. It is a low-cost on-chip solution because (1) the test stimulus is a DC voltage whose exact value is not important, and (2) the output response digitizer is simply a comparator. Simulation results show that integrator leakage can be accurately characterized even in the presence of noise and comparator...
Integrator leakage is a dominant factor in the SNR (signal-to-noise ratio) loss of DeltaSigma modulators. In this paper, we propose a design-for-test (DfT) technique to diagnose the integrator leakage of the single-bit first-order DeltaSigma modulator. The proposed technique is a low-cost solution; it only adds two multiplexers to the modulator, utilizes a single DC voltage as the test stimulus, and...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.