Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
The scanning electrochemical microscope (SECM) was used to form platinum microstructures. For this purpose, a thin layer of platinum dichloride was deposited as precursor on different substrates by evaporating it in high vacuum. For the reduction of this precursor the SECM provided methyl viologen radical cations locally as reducing agent. The mechanism of the reduction is discussed.
The previously introduced adaptive finite element (AFE) algorithm for use in electrochemistry is applied to the simulation of selected multidimensional problems: steady state simulation, chronoamperometric simulation, cyclic voltammetry at microelectrodes, and simulation of arbitrarily shaped scanning electrochemical microscope (SECM) tips. It is shown that the algorithm is suitable for this kind...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.