Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Probe calibration is the basis of accurate atomic force microscope (AFM) measurement. In white light interference based AFM (WLI-AFM), the relationship between the vertical displacement of probe and the position of the interference fringes on probe cantilever should be calibrated for accurate measurement. In this paper, a traceable probe calibration method for WLI-AFM is proposed. A high resolution...
The dynamic characteristics of an atomic force probe are important for rapid and accurate measurement in white light interference (WLI) based atomic force microscope (AFM). The tip of the probe will fly from the surface when its dynamic characteristics are poor, which will cause measurement error. Generally such tip flight can be avoided by reducing the scanning speed, which will decrease the error...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.