Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
The quasi-planar segmented-channel MOSFET (SegFET) design provides an evolutionary pathway for continued CMOS technology scaling, and can be fabricated using a conventional process flow starting with a corrugated substrate. It has been shown previously that the SegFET exhibits better short channel behavior compared to the conventional MOSFET. Recently, we have demonstrated further performance enhancement...
Ultra-high-vacuum (UHV) deposited Ga2O3(Gd2O3) [GGO] has been employed for passivating InGaAs and Ge, without using any interfacial paissivation layers (IPLs). The GGO/InGaAs and /Ge metal-oxide-semiconductor capacitors (MOSCAPs) have exhibited low capacitance-equivalent-thickness (CET) of less than 1nm in GGO, low interfacial densities of states (Dit's) ~ 1011eV-1cm-2, and thermal stability at high...
Self-aligned inversion-channel In0.53Ga0.47As n-MOSFETs with ex-situ atomic-layer-deposited Al2O3 and in-situ ultra-high-vacuum deposited Al2O3/Ga2O3(Gd2O3) as gate dielectrics have been demonstrated. Both devices exhibit excellent DC characteristics, including high drain currents and transconductances. In addition, RF characteristics of both devices were analyzed; without using any isolation, non...
The authors have successfully demonstrated self-aligned high-performance inversion-channel In0.53Ga0.47As MOSFETs using UHV-deposited nano-meter thick AI2O3/GGO dual-layer dielectrics and a TiN metal gate. Record-high drain current and transconductance, despite its challenging process, were achieved. Ring gate D-mode In0.2Ga0.8As MOSFETs using as a similar dual layer gate dielectric also exhibits...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.