Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
A Transient Current Technique (TCT) utilizing an IR laser with 100 ps pulse width and beam diameter of FWHM = 8 μm was used to evaluate non-irradiated and irradiated p-type silicon micro-strip detectors. The beam was parallel with the surface and perpendicular to the strips (Edge-TCT) so that the electron hole pairs were created at known depth in the detector. Induced current pulses were measured...
A Transient Current Technique (TCT) utilizing IR laser with 100 ps pulse width and beam diameter of FWHM=8 ??m was used to evaluate non-irradiated and irradiated p-type silicon micro-strip detectors. The beam was parallel with the surface and perpendicular to the strips (Edge-TCT) so that the electron hole pairs were created at known depth in the detector. Induced current pulses were measured in one...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.