Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
We describe multiple embedded polysilicon resistive sensors in CMOS-MEMS electrothermal probes as a step toward creating probe arrays for passing current on ICs to reconfigure resistance change (RC) vias. When not in contact, a low-resistivity unsilicided polysilicon (LP) resistor detects probe displacement indirectly through the temperature coefficient of resistance (TCR) effect. When in contact...
Extrinsic source/drain series resistance (RSD/) becomes a limiting factor as performance boosters, such as strain-Si and metal-gate/high-k gate stack that enhance the intrinsic MOSFET, are vigorously pursued and implemented in nanoscale CMOS (Ghani, et al., 2003). Non-melt laser spike anneal (LSA) (Feng et al., 2004) has been suggested (Shima, et al., 2004), (Fung et al., 2004) as a means to reduce...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.