Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Thin films of Bi 3.15 Nd 0.85 Ti 3 O 12 (BNT) and Bi 3.15 Nd 0.85 Ti 3−x Zr x O 12 (BNTZ x , x=0.1 and 0.2) were fabricated on Pt/TiO 2 /SiO 2 /Si(100) substrates by a chemical solution deposition (CSD) technique at 700°C. Structures, surface morphologies, leakage current characteristics and Curie temperature...
Mn-doped Bi 3.15 Nd 0.85 Ti 3 O 12 (BNTM) thin films were fabricated on Pt/Ti/SiO 2 /Si(100) substrates by a chemical solution deposition technique and annealed at different temperatures from 650 to 800 °C. The structures of the films were analyzed using X-ray diffraction, which showed that the BNTM films exhibit polycrystalline structures and random orientations...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.