Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
A novel approach for estimating variation in the TDDB failure time is reported. The results for structures with Dual Damascene copper-based metallization and a low-k dielectric material demonstrate that variation in the initial current at stress reasonably predicts variation in the TDDB failure time. Moreover, the method does not cause failure in the structures and is more efficient compared to other...
Qualification testing of photovoltaic modules is a set of well-defined accelerated stress tests with strict pass/fail criteria based on functionality / performance, safety / insulation and visual requirements. This paper, third in series from the Photovoltaic Testing Laboratory of ASU / TUV Rheinland PTL, compares the overall failure rates obtained in three consecutive periods: 1997-2005, 2005-2007...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.