Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
At room temperature, oxide dispersion strengthened (ODS)-Fe (Fe-2%Al2O3) and pure Fe were implanted with 140-keV helium ions by doses up to 1e+15, 5e+15, and 1e+16/cm2. Vacancy-type defects induced by the implantation were investigated with positron-annihilation spectroscopy (PAS). Defect profiles of the S-parameter derived from PAS as a function of positron incident energy up to 20 KeV were analyzed...
Vacancy-type defects in Fe-2%Al2O3 (ODS-Fe) and pure Fe produced by helium ion irradiation at room temperature were investigated using positron beam Doppler broadening energy spectra (DBES). Defect profiles of the S parameter derived from DBES as a function of positron incident energy up to 20 KeV were analyzed. The S parameter values of the damaged layer for the ODS-Fe are smaller than those of pure...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.