Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Summary form only given. Electrical contact is important to thin film devices and integrated circuits, carbon nanotubes based cathodes and interconnects, field emitters, wire-array Z pinches, metal insulator-vacuum junctions, and high power microwave sources, etc. Because of the surface roughness on a microscopic scale, true contact between two pieces of conductors occurs only at the asperities of...
This paper discusses recent advances on the electrical contact resistance. The basic theory of the contact resistance is vastly extended to higher dimensions, including dissimilar materials in the main current channels and in the connecting bridge joining them. Recent experiments and simulations were also performed to validate our theory.
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.