Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
With rapid development of lighting emitting diode (LED) market, more people are focusing on reliability testing method of LED luminaries system. Based on the previous exploration, to assess the whole system reliability with a fast way, authors propose to divide the system into several subsystems, and then carry out step stress accelerated testing (SSAT) to get failure mechanism and reliability distribution...
We report on the effect of front-side Ag metallization on the underlying n+-p junction of multicrystalline Si solar cells. The junction quality beneath the contacts was investigated by characterizing the uniformities of the electrostatic potential and doping concentration across the junction, using scanning Kelvin probe force microscopy and scanning capacitance microscopy. We investigated cells with...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.