Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Scaling is a key issue for resistive switching (RS) memory before commercialization. In this paper, for the first time, we reveal the impact of electrode diffusion on the device performance as the thickness of RS material scaling. Serious deterioration of on/off ratio and device yield was observed when the material scaled below 3 nm. A new method of two-step electrode deposition accompanied with re-oxidization...
A new current sweep measurement method is introduced to investigate the details of the set process. The electrode-dependent current compliance failure phenomenon is investigated in oxide-based resistive switching memory. The results indicate that the amount of conductive filaments formed in the oxide layer is the critical factor that influences the set behavior (sudden or slowly) and causes the compliance...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.