Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
ITO/AZO double films were deposited by RF sputtering on p-Si(lOO) substrate to fabricate ITO/AZO/SiCVp-Si SIS heterojunction. The structural, optics and electrical properties of the ITO/AZO films were characterized by UV-VIS spectrophotometer, four point probe and Hall effect measurement, respectively. The results show that ITO/AZO films have good quality. The electrical junction properties were investigated...
ITO/AZO double films were deposited by RF sputtering on p-Si texturized substrate to fabricate ITO/AZO/SiO2/p-Si SIS heterojunction. The structural, optics and electrical properties of the ITO/AZO films were characterized by UV-VIS spectrophotometer, four point probe, respectively. The results show that ITO/AZO films have good quality. The electrical junction properties were investigated by I-V measurement,...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.