Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
AlSb polycrystalline thin films were prepared by cosputtering. The structure, morphology and electrical properties of the films are studied. X-ray diffraction results show that the films are AlSb polycrystalline with a face-centered cubic structure. The use of hydrogen in the atmosphere and the higher substrate temperature are beneficial to the grain growth of the AlSb films. The intrinsic AlSb film...
CdS polycrystalline thin films were fabricated by magnetron sputtering and the influence of substrates, sputtering powers, pressures, and substrate temperatures on the structure of thin films is investigated. The films deposited on substrates of glass, quartz, SnO2: F and p-type single silicon are hexagonal phase and they grow preferentially along (002) planes. As the radio-frequency power and substrate...
Hydrogenated silicon (Si:H) thin films were deposited at a selected argon diluting ratio under varied RF power density and the influence of it on nanocrystallization was studied by XRD, FTIR and Raman spectroscopy.
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.