Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
An inverse approach is developed and implemented to quantify the resistance of the die-attach thermal interface (DTI) in high power light emitting diodes (LEDs). The transient time domain dominated by the resistance of the DTI is selected first using a hybrid analytical/numerical solution. Then, the resistance of the DTI is determined inversely from the experimental data over the predetermined transient...
An advanced inverse approach, based on the transient junction temperature behavior, is proposed and implemented to quantify the resistance of the die-attach thermal interface (DTI) in high-power light-emitting diodes (LEDs). After describing the unique transient behavior of high-power LEDs associated with the forward voltage method, a hybrid analytical/numerical model is used to determine an approximate...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.