Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
A unique, experimental analysis is provided on ultra-broad-band noise data for high frequency BJT and FET transistors derived from multiple test setups. These setups include a traditional in-house flicker noise measurement system (to 100kHz), and a new commercially available broad-band low frequency noise measurement system (to 40MHz), along with higher frequency microwave noise figure system (utilized...
A revealing case study is presented to explore the impact of excess noise ratio (ENR) and vector network analyzer (VNA) mechanical coaxial calibration on accurate on-wafer noise parameter testing for ultra-low noise devices. On-wafer noise parameter tests were conducted on a GaAs pHEMT device from 2-50 GHz after calibration with three different noise sources. For each, ENR specified from an external...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.