Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
This paper describes the total ionizing dose test facility available at the University of Saskatchewan. Two Co-60 sources are available one for high and the other low dose rate radiation effects testing of electronics. The total ionizing dose performance of an operation amplifier was evaluated. The testing results compare well with previously published results.
This paper presents and evaluates a new built-in current sensor used to detect n-well single-event transients (SETs) induced by radiation strikes in integrated circuits (IC). A 28 nm bulk CMOS test chip containing the proposed sensor design was irradiated by two-photon absorption lasers. Both simulation and experimental data confirm the validity of the proposed design and demonstrate that it can be...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.