Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
There is a tradeoff between the requirements for security and testability for a sensor node hardware. To test a sensor, it is desired to have access to the internal circuitry of the Device-Under-Test (DUT) to apply test stimuli and observe its responses. While such unrestricted access to the DUT is desired for testing, it can undermine the security. To secure a sensor node from attacks by malicious...
This study presents a new test method for Through Silicon Via (TSV) in 3D stacked ICs, in which a Delay-Locked Loop (DLL) is utilized to detect TSV defects. As compared to TSV test methods using free running ring oscillators, the proposed method presents a much better performance against Process, supply Voltage and Temperature (PVT) variations due to the inherent feedback of DLL systems. In the proposed...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.