Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Addressable arrays have been used in the semiconductor industry for process characterization. Compared with traditional test structures with probing pads, addressable arrays require much less pads, therefore save significantly on mask/wafer areas and testing time (due to less prober movement). However, because current from device under test (DUT) must be measured through addressable circuitry in this...
Addressable test array needs switches to select and isolate testing structures; however, switches occupy extra chip area and limit the array size and measurement accuracy due to additional switch leakage. In this paper, we implement the switch by NMOS transistor, thus improve the design of addressable test array on array size, measurement accuracy as well as area efficiency. Simulations in a 65 nm...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.