Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Metal degradation has recently received increased attention as a failure mechanism in power devices under active cycling conditions, i.e. under repeated pulsed voltage/current loads. Both electro-thermal and thermo-mechanical simulation are indispensable for understanding this mechanisms. The paper presents experimental and simulation data for a dedicated test structure. A suitable lifetime model...
Chip-package interaction is a major concern for product reliability. Temperature cycling is a commonly used stress test to address this issue. The paper shows that temperature shock can substitute temperature cycling for certain failure mechanisms, thereby reducing stress times by a factor of 28 or even more.
Power stages are subject to severe stress due to active cycling, resulting in e.g. fast thermal cycling. While some applications require several hundred millions of cycles under normal operation conditions, ldquodisturbancesrdquo such as short circuit pose additional challenges. These issues are neither addressed by ldquoclassicalrdquo silicon wafer technology qualification nor by standard product...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.