Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
In this paper a new electrical model is proposed to be used in fault size based fault simulation of crosstalk aggravated resistive short defects. The electrical behavior of the defect is first described and analyzed in details. Then an electrical model is proposed allowing to efficiently compute the critical resistance determining the range of detectable short resistance. The model is validated by...
We present a simulator which determines the coverage of small-delay faults, i.e., delay faults with a size below one clock cycle, caused by resistive-open defects. These defects are likely to escape detection by stuck-at or transition fault patterns. For the first time, we couple the calculation of the critical size of a small-delay fault with the computation of the resistance range of the corresponding...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.