Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
The interfacial stability is highly responsible for the longevity and safety of sodium ion batteries (SIBs). However, the continuous solid‐electrolyte interphase(SEI) growth would deteriorate its stability. Essentially, the SEI growth is associated with the electron leakage behavior, yet few efforts have tried to suppress the SEI growth, from the perspective of mitigating electron leakage. Herein,...
Defects at the interfaces of perovskite (PVK) thin films are the main factors responsible for instability and low photoelectric conversion efficiency (PCE) of PVK solar cells (PSCs). Here, a SnO2‐MXene composite electron transport layer (ETL) is used in PSCs to improve interfacial contact and passivate defects at the SnO2/perovskite interface. The introduced MXene regulates SnO2 dispersion and induces...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.