Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
A novel virtual platform is presented, providing CAD/CAT support for efficient test development and attempting to bridge the gap between design and test. The platform, which models and simulates the entire test environment, provides methodologies, model libraries and tool sets to enable design, debug and verification of all test relevant processes including fault analysis, test algorithm, load board...
Virtual test (VT) is a promising technique that facilitates test development and cuts time-to-market especially for analog/mixed-signal/RF devices. While the concept has been around for more than a decade and its benefits are widely acknowledged, to date it has not become a standard technique in the day-to-day business of test development. The major difficulties are: weak integration between test...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.