Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Hole injection barriers at the regioregular-poly-3(hexylthiophene) (RR-P3HT)/metal (Cu or Ag) interface were investigated using the accumulated charge measurement (ACM). Thermal annealing of RR-P3HT at 55 °C decreased the injection barrier. RR-P3HT thermally annealed in N2 forms an ohmic contact with Ag and a Schottky contact with Cu. The obtained values of the injection barriers, ϕB were well expressed...
A new technique to determine the injection barrier using displacement current measurement (DCM) is reported. This technique was applied to junctions of metal-free phthalocyanine (H2Pc)/Ag and H2Pc/MoO3/Ag. The injection barriers from Ag to the highest occupied molecular orbital of H2Pc and to the lowest unoccupied molecular orbital of H2Pc were evaluated and found to be 0.4 V and 1.8 V, respectively...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.