Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Due to the great generalization and the support of statistics, support vector machines (SVMs) has been widely applied to resolving multi-class classification problem. Numbers of multi-class SVM have been proposed. Compared with other multi-class SVM, binary tree of SVM (BTS) takes a good advantage of lower time consuming. However, there is some unnecessary data reassignment during constructing a binary...
Considering the problem that image defect's fineness, complex shape, difficultly to extract feature, and easily effected by noise on PCB products machine vision inspection system, the paper presented defect identification classification algorithm based on Naive Bayes and MetaClass , which resolved the problem that fine and complex defect is difficult to classify. Regard Naive Bayes algorithm to construct...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.