Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
The intrinsic Time Dependent Dielectric Breakdown properties of the spacer between gate and first level local interconnects are assessed for dielectrics and spacings compatible with N7 and beyond. The intrinsic reliability properties down to 3nm thickness of standard LPCVD Si3N4- and PECVD Si3N4-films as well as more advanced Al2O3- and low-k CVD SiN-layers have been studied using imec's pcap test...
Transformer deficiencies usually take many years to gestate before developing into a problem or failure. Thus the loss induced by problems or failures could be decreased if they are diagnosed earlier and a maintenance action is adopted duly. Many methods had been developed to finish this purpose, but the diagnosis results were still unsatisfied. In this paper, a case-based reasoning method is utilized...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.