Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Zamieszczono przegląd wewnetrznych źródeł zakłóceń w cyfrowych układach scalonych. Szczegółowo opisano metody redukcji poziomów tych zakłoceń. Obejmują one stosowanie kondensatorów odsprzęgających, zmniejszanie indukcyjności układowych i kształtowanie charakterystyk przełączania układów. Zostały także dodane niektóre praktyczne przykłady.
W referacie przedstawiono niektóre problemy związane z badaniami odporności modułów i układów scalonych na zaburzenia elektromagnetyczne. Na wstępie uzasadniono potrzebę takich badań oraz przedstawiono podział metod badawczych. Dalej zaprezentowano nową metodę badań odporności układów scalonych na zaburzenia elektromagnetyczne, wykorzystującą tzw. małą klatkę Faraday'a. Opisano stanowisko badawcze...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.