Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Ensuring reliable computation at the nanoscale requires mechanisms to detect and correct errors during normal circuit operation. In this paper we propose a method for designing efficient online error detection schemes for circuits based on the identification of invariant relationships in hardware. More specifically, we present a technique that automatically identifies multi-cycle gate-level invariant...
As the complexity of integrated circuits has increased, so has the need for improving testing efficiency. Unfortunately, the types of defects are also becoming more complex, which in turn makes simple approaches for testing inadequate. Using n-detect testing can improve detect coverage; however, this approach can greatly increase the test set size. In this proof-of-concept paper we investigate the...
Defective part levels of zero are almost impossible to achieve in an era of complex defects, process variations, and limited testing resources. It is important to ensure that any defects missed during test will impact the end user as little as possible. However, optimizing test sets for superior detection of critical defects requires an understanding of relative fault criticality, and this determination...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.