Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
This paper examines the problem of generating testing actions for electronic industry test systems designed for verification of electronic packages of UHF band. This paper shows complex problems of setting amplitude and time parameters of multichannel generators of test signals. The problems of multichannel wide range signal generation and frequency control, rise and fall time control, pulse time and its position on the time scale. This paper also solves the problem of pulse shifts relative to each other in different channels. It suggests methods of construction of high accuracy analog and digital picosecond delay line. And shows the means of adjusting the amplitude parameters of test signal.