Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
It is shown that the ratings of rectifiers can be optimized by maximizing the ratio of the high level to the low level lifetime. An optimization criterion relating the recombination center location to its capture cross-section ratio for holes and electrons is derived. In the case of thyristors, the leakage current must also be considered in the optimization. This results in a criterion which relates...
A model of base widening and the associated inverse mode base conductivity modulation is proposed. Expressions are obtained for saturated current gain (hFE) and cutoff frequency (fT) in double-diffused transistors for exponential, Gaussian, and erfc base impurity profiles. A convenient method for calculation of optimum transistor design variables is also given.
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.