Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
In this paper, the framework for a real-time view recommendation system is proposed. The proposed system comprises two parts: offline aesthetic modeling stage and efficient online aesthetic view finding process. A preference-aware aesthetic model is proposed to suggest views according to varied user-favorite photographic styles, where a bottom-up approach is developed to construct an aesthetic feature...
This demonstration presents a social interaction analysis system designed to operate in real-time and under real environment conditions. A webcam is used to capture videos of a group of people interacting in an unconstrained environment. Locations of multiple people and their head poses are extracted from the videos. Direct pairwise interactions are detected based on the relative distance and head...
VRAPS (Visual Rhythm-based Audio Playback System) is an interactive multimedia application that uses a novel visual rhythm detection technique to allow a user to control the playback speed of an audio signal by moving in front of a video camera. As traditionally defined in the context of music, a beat represents a distinctive musical event such as the hitting of a drum or the start of a new melodic...
A lot of vital defects appear in the process of fabrication of IC wafer. Material defect which mainly causes circuits to be connection failure is an important factor of reducing the yield of IC. So the inspection of material defect is one of the most important things to do for guaranteeing the quality of IC. In this paper, a machine visual test system is designed with AOI (automated optical inspection)...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.