Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Radiation-induced pulse noises called single-event transients, SETs, are becoming a serious soft-error source for logic VLSIs. Analytical models explicitly expressing the relationship between the pulse width and radiation/device/circuit parameters are desired as guidelines to develop optimized countermeasures. A simple mathematical expression is devised for characterizing SET pulse widths in SOI CMOS...
Single event transient (SET) pulse-widths were measured as a function of linear energy transfer (LET) by using pulse capture circuits and simulated with mixed-mode 3-D device simulations. We found that the carrier recombination process dominates the LET dependence of the pulse-widths.
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.