Serwis Infona wykorzystuje pliki cookies (ciasteczka). Są to wartości tekstowe, zapamiętywane przez przeglądarkę na urządzeniu użytkownika. Nasz serwis ma dostęp do tych wartości oraz wykorzystuje je do zapamiętania danych dotyczących użytkownika, takich jak np. ustawienia (typu widok ekranu, wybór języka interfejsu), zapamiętanie zalogowania. Korzystanie z serwisu Infona oznacza zgodę na zapis informacji i ich wykorzystanie dla celów korzytania z serwisu. Więcej informacji można znaleźć w Polityce prywatności oraz Regulaminie serwisu. Zamknięcie tego okienka potwierdza zapoznanie się z informacją o plikach cookies, akceptację polityki prywatności i regulaminu oraz sposobu wykorzystywania plików cookies w serwisie. Możesz zmienić ustawienia obsługi cookies w swojej przeglądarce.
Surfaces of the Ga/Ge(113) system have been studied by means of low-energy electron diffraction (LEED) and scanning tunneling microscopy (STM). It has been found that the only two reconstructions of the system, i.e., ( 581 (-1)) and 1 2 , consist of the same (1 2)-like building blocks and, hence have only slightly different coverages. Coexisting with the reconstructions...
In the present paper we report on studies of the group III/IV(113) systems of Al, Ga and In on Si(113) and Ge(113) with LEED and AES. LEED shows that after being annealed the surfaces of the Al/Si, Ga/Si and In/Ge systems facet to (103), (013), (112) and (115) facets while those of the In/Si, Al/Ge and Ga/Ge systems reconstruct to (113)-(1 2). In the entire tested range of coverage and annealing...
Podaj zakres dat dla filtrowania wyświetlonych wyników. Możesz podać datę początkową, końcową lub obie daty. Daty możesz wpisać ręcznie lub wybrać za pomocą kalendarza.